Produktai skirti xpolĖ pro (2)

Der optische 3D-Profilometer Nexview™ NX2 wurde für die anspruchsvollsten Anwendungen entwickelt und kombiniert besonders hohe Präzision, fortschrittliche Algorithmen, Anwendungsflexibilität und Automatisierung in einem einzigen Paket, und ist somit ZYGOs fortschrittlichster scannendes Weisslichtinterferometer (CSI) Profilometer. Diese vollständig berührungslose Technologie optimiert die Rentabilität, indem sie bei allen Vergrößerungen die gleiche Sub-Nanometer-Präzision liefert und eine größere Bandbreite von Oberflächen schneller und präziser misst als andere vergleichbare kommerziell erhältliche Technologien. Mit den verschiedensten Anwendungen wie Ebenheit, Rauheit, Welligkeit, Dünnschichten, Stufenhöhen usw. ist das Nexview NX2 für praktisch jede Oberfläche und jedes Material das kompromisslose Profilometer. 1,9 MP Großflächen Hochgeschwindigkeitsmessungen Automatisierte Teilefokussierung und -einstellung Messmitelfähige Performance Die vibrationsresistente Messtechnik

Hoch entwickeltes, leistungsfähiges 3D-Messsystem mit kompakter Stellfläche. Präzise Videomessung – Telezentrische 10:1-Zoomoptik TeleStar® für optimale optische Abbildung in allen Zoomstufen Vielseitigkeit durch MultisensorTechnologie – Wahlweise mit 3D-Tastern (schaltend, messend), patentiertem, interferometrischem TTL-Laser und Mikrosensor Modernste Software – Wählen Sie entsprechend Ihren Anforderungen aus einer Vielzahl leistungsfähiger QVIMess-, Auswerte- und Offline- Softwareanwendungen aus